1、基体金属磁性质。

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质。

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度。

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

4、边缘效应。

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此，在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

5、曲率。

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

6、试件的变形。

侧头会使软覆盖层试件变形，因此，在这些试件上测出的数据不可靠。

7、表面粗糙度。

基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙程度越大，影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还在未涂覆的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解出去覆盖层后，再校对仪器的零点。